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高低溫試驗(yàn)箱密封性差的不良影響
2024-12-19

高低溫試驗(yàn)箱作為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中的重要一員,其密封性對于試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要。如果高低溫試驗(yàn)箱的密封性差,將會(huì)帶來一系列不良影響。首先,密封性差會(huì)導(dǎo)致箱內(nèi)溫度難以穩(wěn)定維持在設(shè)定值。外界的空氣會(huì)不斷進(jìn)入試驗(yàn)箱內(nèi)部,而箱內(nèi)的熱空氣或冷...

  • 2017-11-10

    鹽霧試驗(yàn)箱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及高天特色鹽霧試驗(yàn)箱用于檢測產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境下性能的穩(wěn)定性,因?yàn)闊o論是金屬產(chǎn)品還是非金屬產(chǎn)品,由于自然界空氣中含有水分及鹽分(無機(jī)鹽等)而產(chǎn)生腐蝕,從而導(dǎo)致性能改變,比如金屬銹蝕、電路板腐蝕等。同種產(chǎn)品采用哪種鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要根據(jù)鹽霧試驗(yàn)的特性和金屬的腐蝕速度及對鹽霧的敏感程度選擇。下面介紹幾個(gè)鹽霧試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn):1.GB/T2423.17—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法》2.GB/T2423.18—2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部...

  • 2017-11-09

    高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)的機(jī)械結(jié)構(gòu):1.本系統(tǒng)符合冷熱沖擊之可靠度試驗(yàn)規(guī)格。(CNS,MIL,IEC,JIS,ISO,ASTM,DIN,BS,UL,NACE,…)2.測試樣品置于盤架,藉由氣壓缸直線驅(qū)動(dòng)蓄熱區(qū)或蓄冷區(qū)之閥門,以動(dòng)作需要打開DAMPER,引導(dǎo)冷熱氣流導(dǎo)入測試箱內(nèi),而達(dá)到快速冷熱沖擊之效果,平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(TBHC)+特殊設(shè)計(jì)送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),以P.I.D.方式控制S.S.R.,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定的使用.3.采特殊設(shè)計(jì),節(jié)省空間且操作高度適中,維修保養(yǎng)...

  • 2017-11-07

    高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)概述高壓加速老化試驗(yàn)又名PCT試驗(yàn),一般稱為壓力鍋蒸煮試驗(yàn)或是飽和蒸汽試驗(yàn),zui主要是將待測品置于嚴(yán)苛之溫度、飽和(R.H)飽和水蒸氣及壓力環(huán)境下測試,測試代測品耐高濕能力,針對印刷線路板(PCB&FPC),用來進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等試驗(yàn)?zāi)康模绻郎y品是半導(dǎo)體的話,則用來測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴(yán)苛的溫以及壓力環(huán)境下測試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬...

  • 2017-11-07

    紫外光耐氣候試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途及工作原理1.1產(chǎn)品用途本產(chǎn)品采用能準(zhǔn)確模擬陽光中UV段光譜的熒光紫外燈,并結(jié)合控溫、供濕等裝置來模擬對材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降;開裂、剝落、粉化、氧化等損害的陽光(UV段)高溫、高濕、凝露、黑暗周期等因素,同時(shí)通過紫外光與濕氣之間的協(xié)同作用使得材料單一耐光能力或單一耐濕能力減弱或失效,從而廣泛用于對材料耐氣候性能的評價(jià)。1.2工作原理本試驗(yàn)機(jī)采用熒光紫外燈為光源,通過模擬自然陽光中的紫外輻射和夜間降溫結(jié)露及淋雨,對材料進(jìn)行加速耐候性試驗(yàn),以獲得...

  • 2017-10-28

    談冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱的溫度瞬間變化冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱因?yàn)闇刈兯俾室髽O快,通常分為高溫區(qū)和低溫區(qū)兩個(gè)部分。為了使試驗(yàn)樣品能在瞬間由*溫度下降到極低溫度,在高溫區(qū)和低溫區(qū)之間設(shè)計(jì)移動(dòng)通道,如移動(dòng)吊籃,可以將實(shí)驗(yàn)樣品在幾秒內(nèi)由高溫區(qū)移動(dòng)到低溫區(qū),檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)物品因?yàn)槔錈釠_擊而引起的熱脹冷縮以及相關(guān)的物理化學(xué)反映。只有一個(gè)區(qū)域的高低溫測試箱,如果要做高低溫實(shí)驗(yàn)需要由高溫逐漸冷卻再到低溫,或則是由低溫慢慢升溫到高溫,這樣的速率是無法滿足沖擊試驗(yàn)的要求的。由此便誕生出了冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱,...

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